COC 測試設備
LQ-BI114 測試設備是專門針對COC器件的老化測試開發的一款設備。設備主體采用框架式結構，載具采用可分離式“抽屜”形式，每個抽屜可獨立控溫。載具采用標準快插式電氣接口，可根據不同產品設計不同載具在同一平臺內測試。
特點：
※ LQ-BI114老化測試設備適用高功率半導體激光器老化和壽命測試。
※ 一個系統具有11個獨立溫層，每層4個抽屜式測試載具，可以同時測試1408顆激光器。
※ 系統可同時進行多種獨立測試。
※ 系統可測試高功率激光器LIV特性。
※ 每個夾具可單獨進行溫度控制，控溫范圍40℃到150℃，溫度穩定性小于1℃。
※ 設備軟件具有強大數據記錄，數據備份功能，設備具備MES等多種通訊接口。
